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薄膜系统电子逸出功随温度变化规律研究

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薄膜系统电子逸出功随温度变化规律研究[J]. 西南师范大学学报(自然科学版), 2005, 30(4).
引用本文: 薄膜系统电子逸出功随温度变化规律研究[J]. 西南师范大学学报(自然科学版), 2005, 30(4).
Study of Temperature Effect on the Work Function of Electron of Membrane[J]. Journal of Southwest China Normal University(Natural Science Edition), 2005, 30(4).
Citation: Study of Temperature Effect on the Work Function of Electron of Membrane[J]. Journal of Southwest China Normal University(Natural Science Edition), 2005, 30(4).

薄膜系统电子逸出功随温度变化规律研究

Study of Temperature Effect on the Work Function of Electron of Membrane

  • 摘要: 导出了薄膜系统电子逸出功温度系数随温度和覆盖度变化的关系式.以铕Eu在钨w(100)面的吸附为例,讨论了温度对吸附系统逸出功变化规律的影响,结果表明逸出功随温度升高而增大,随覆盖度增大而增大.
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薄膜系统电子逸出功随温度变化规律研究

摘要: 导出了薄膜系统电子逸出功温度系数随温度和覆盖度变化的关系式.以铕Eu在钨w(100)面的吸附为例,讨论了温度对吸附系统逸出功变化规律的影响,结果表明逸出功随温度升高而增大,随覆盖度增大而增大.

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