Mo2C膜电阻率的研究
Research on the Mo2c film’s Resistivity
-
摘要: 介绍了Mo2C膜的制备过程和对其电阻率的测量结果,探索了其导电机理以及沉积时间、基底温度和生长过程对电阻率的影响.利用Gibbs函数极小的原理探索了膜中Mo原子的含量随温度的变化规律,并对电阻率随温度的变化规律给予了解释.结果表明:它的电阻率取决于生长过程和Mo原子的含量;电阻率随基底温度、沉积时间呈非线性变化.
-
关键词:
- 电阻率,四探针法,沉积时间,基底温度
-
-
计量
- 文章访问数: 278
- HTML全文浏览数: 122
- PDF下载数: 0
- 施引文献: 0