某些射影辛群 S4（q）的 OD-刻画

张良才,聂文敏,张苗,张盟盟

doi:10.13718/j.cnki.xsxb.2014.12.002

西南师范大学学报(自然科学版)

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
	姓名不能为空！
邮箱
	邮箱不能为空！非法的邮箱地址。
手机号码
	电话不能为空！请输入有效手机号!
标题
	标题不能为空！
留言内容
	内容不能为空！
验证码
	验证码不能为空！验证码错误！

某些射影辛群 S4（q）的 OD-刻画

张良才,聂文敏,张苗,张盟盟. 某些射影辛群 S4（q）的 OD-刻画[J]. 西南师范大学学报(自然科学版), 2014, 39(12). doi: 10.13718/j.cnki.xsxb.2014.12.002

引用本文:

张良才,聂文敏,张苗,张盟盟. 某些射影辛群 S4（q）的 OD-刻画[J]. 西南师范大学学报(自然科学版), 2014, 39(12). doi: 10.13718/j.cnki.xsxb.2014.12.002

ZHANG Liang-cai,NIE Wen-min,ZHANG Miao,ZHANG Meng-meng. OD-Characterization of Certain Projective Symplectic Group[J]. Journal of Southwest China Normal University(Natural Science Edition), 2014, 39(12). doi: 10.13718/j.cnki.xsxb.2014.12.002

Citation:

ZHANG Liang-cai,NIE Wen-min,ZHANG Miao,ZHANG Meng-meng. OD-Characterization of Certain Projective Symplectic Group[J]. Journal of Southwest China Normal University(Natural Science Edition), 2014, 39(12). doi: 10.13718/j.cnki.xsxb.2014.12.002

某些射影辛群 S4（q）的 OD-刻画

张良才,聂文敏,张苗,张盟盟

重庆大学数学与统计学院,重庆,401331

OD-Characterization of Certain Projective Symplectic Group

ZHANG Liang-cai,NIE Wen-min,ZHANG Miao,ZHANG Meng-meng

摘要: Agroup G is called k‐fold OD‐characterizable if there exist exactly k non‐isomorphic groups with same order and degree pattern ;if k=1 ,G is called OD‐characterizable for short .In this article ,we will prove that the projective symplectic group S4 (q) are OD‐characterizable ,where 3
- finitesimplegroup,degreepattern,projectivesymplecticgroup
Abstract: 有限单群；度数型；射影辛群

计量

文章访问数: 604
HTML全文浏览数: 480
PDF下载数: 0
施引文献: 0

某些射影辛群 S4（q）的 OD-刻画

张良才,聂文敏,张苗,张盟盟

重庆大学数学与统计学院,重庆,401331

关键词:

finitesimplegroup,degreepattern,projectivesymplecticgroup

摘要: Agroup G is called k‐fold OD‐characterizable if there exist exactly k non‐isomorphic groups with same order and degree pattern ;if k=1 ,G is called OD‐characterizable for short .In this article ,we will prove that the projective symplectic group S4 (q) are OD‐characterizable ,where 3